光纜線路施工中大衰耗點出現(xiàn)的原因
發(fā)布日期：2019-06-20
發(fā)布人： 原創(chuàng)
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光纖具有傳輸數(shù)率快、損耗低、抗干擾能力強等優(yōu)點，廣泛應用于長距離通信，很多追求高速率的網(wǎng)絡也大量使用光纜傳輸。光纜在布置時，常常會產(chǎn)生一些大衰耗點，這些衰耗點對網(wǎng)絡通信有著巨大影響。那么，這些衰耗點是如何產(chǎn)生的？下面一起來看看吧。
光纜大衰耗點產(chǎn)生的幾種現(xiàn)象和原因
1,敷設時產(chǎn)生的大衰耗點
在光纜施工中，由于光纜敷設長度一般在2～3KM直埋敷設時，穿越的障礙物較多，在施工中，敷設人員較多，敷設距離較遠，難以保證所有敷設人員協(xié)調(diào)行動，特別是通過障礙物較多時，如：穿越防護鋼管，拐彎、上下坡等，從而出現(xiàn)俗稱的光纜打背扣(出現(xiàn)死彎)現(xiàn)象，對光纜造成嚴重傷害，一旦發(fā)生死彎現(xiàn)象，此處必然會出現(xiàn)一個大衰耗點，嚴重的會發(fā)生部分或全部光纖斷裂現(xiàn)象，這是光纜 施工中容易出現(xiàn)的故障現(xiàn)象。此外，在敷設光纜時，光纜端頭的光纜最容易受到損傷，在接續(xù)時，往往在接續(xù)點處顯示有較大衰耗值，此時，即使多次重復熔接，也不能降低接續(xù)損耗值，從而形成一個較大的衰耗點。
2,接續(xù)過程中產(chǎn)生的大衰耗點
在光纜接續(xù)過程中，產(chǎn)生大衰耗點是經(jīng)常發(fā)生的，我們一般用OTDR(光時域反射儀)進行監(jiān)測，即每熔接一根光纖，都用OTDR測試一下熔接點的衰耗值，具體測試時，采用雙向監(jiān)測法，由于光纖制造過程中存在的差異性，兩根光纖不可能完全一致，總是存在模場直徑不一致現(xiàn)象，從而導致了用OTDR所測的損耗值并不是接續(xù)點的實際損耗值，其數(shù)值有正有負，一般用雙向測試值的算術平均值作為實際衰耗值。在接續(xù)時，一般用實時監(jiān)測法，基本能保證熔接損耗達到控制目標，但經(jīng)常產(chǎn)生大損耗點的原因是在熔接完畢后進行光纖收容時，部分光纖受壓或彎曲半徑過小，即形成一個大衰耗點。因為1550nm波長的光纖對微彎損耗非常敏感，光纖一旦受壓，即產(chǎn)生一個微彎點，或盤纖時，彎曲半徑過小，光纖信號在此處也產(chǎn)生較大的衰耗，表現(xiàn)在光纖后向散射曲線上，就形成了一個較大的衰耗臺階;另外，一個比較容易忽視的原因是光纜接頭盒組裝完成后，固定接頭盒和固定光纜時，由于光纜在接頭盒內(nèi)固定的不是很牢固，造成光纜擰轉(zhuǎn)，使光纖束管變形，由于光纖受壓，造成光纖衰耗值急劇增加，形成衰耗臺階。
3,運輸和裝卸造成的大衰耗點
在光纜運輸?shù)绞┕がF(xiàn)場時，由于現(xiàn)場環(huán)境比較惡劣，特別是敷設鐵路通信光纜時，吊車往往無法到達施工現(xiàn)場，此時，常常是通過人力裝卸光纜，在光纜卸下的過程中，外層光纜經(jīng)常受到損傷，原因是光纜盤直徑過小，導致外層光纜離地面距離過近，由于現(xiàn)場地面土質(zhì)軟硬不一，崎嶇不平，在滾動光纜盤的過程中，光纜盤陷入地面，導致外層光 纜被地面硬物硌壞，主要原因是部分廠家為降低生 產(chǎn)成本，采用較小的光纜盤。此外，光纜盤未用木板進行包封(有些是鐵架光纜盤，無法用木板進行包封)，而僅用塑料布在光纜外層進行包裹，或者是單盤測試后，光纜盤包封未恢復，起不到應有的防護作用，當光纜外層被石頭等硬物硌傷后，光纖在束管中受壓，即產(chǎn)生一個衰耗臺階，表現(xiàn)在光纖后向散射曲線上，就形成一個較大的衰耗點。
4,成端過程中產(chǎn)生的大衰耗點
在光纜成端過程中，也經(jīng)常會產(chǎn)生大衰耗點。在成端時，由于一般不進行熔接損耗監(jiān)測，僅憑經(jīng)驗操作，因此，產(chǎn)生大衰耗點的幾率也大增。此外，在光纖熔接后安裝收容盤時，往往造成收容盤附近 的光纖束管彎曲半徑過小或造成光纖束管擰轉(zhuǎn)變形，使光纖在此處產(chǎn)生一個較大的衰耗點，此類大衰耗點一般比較隱蔽，不像線路中間的大衰耗點用OTDR可以直接測出。
